Reliability challenges for GaN-based FETs

M. Kuball, M. Uren, J. Pomeroy, S. Karboyan, I. Chatterjee, D. Liu, J. Anaya, T. Brazzini

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículo

Idioma originalEspañol (Colombia)
DOI
EstadoPublicada - jun 21 2019

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Kuball, M., Uren, M., Pomeroy, J., Karboyan, S., Chatterjee, I., Liu, D., Anaya, J., & Brazzini, T. (2019). Reliability challenges for GaN-based FETs. https://doi.org/10.7567/ssdm.2016.n-4-01