Thermally stimulated conductivity of Cu 3BiS 3 thin films deposited by co-evaporation: Determination of trap parameters related to defects in the gap

A. Dussan, J. M. Murillo, F. Mesa

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Thermally stimulated conductivity of Cu 3BiS 3 thin films deposited by co-evaporation: Determination of trap parameters related to defects in the gap'. En conjunto forman una huella única.

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