Thermally stimulated conductivity of Cu 3BiS 3 thin films deposited by co-evaporation: Determination of trap parameters related to defects in the gap

A. Dussan, J. M. Murillo, F. Mesa

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

7 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Thermally stimulated conductivity of Cu <sub>3</sub>BiS <sub>3</sub> thin films deposited by co-evaporation: Determination of trap parameters related to defects in the gap'. En conjunto forman una huella única.

Compuestos químicos

Ingeniería y ciencia de los materiales