Cálculo de constantes ópticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a través del método de Wolfe

F. Mesa, V. Ballesteros, A. Dussan

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Resumen

Using the Wolfe method, we calculated the procurement of optical constants. These constants, absorption coefficient (α), refraction index of (n) and thin film thickness (d), are significant in the optical characterization of the material. We compared the Wolfe method with the method employed by R. Swanepoel. To estimate the optical constants of semiconductor thin films, we developed a constrained nonlinear programming model, based solely, on known transmission data. Ultimately, we presented a solution to this nonlinear programming model for quadratic programming. Through numerical experiments and transmittance spectral data of Cu3BiS3 thin films, we obtained values of a= 10378.34 cm-1, n = 2.4595, d =989.71 nm and Eg= 1.39 Ev, demonstrating the reliability of the proposed method.

Título traducido de la contribuciónCalculation of the optical constants of Cu3BiS3 thin films using the Wolfe method
Idioma originalEspañol
Páginas (desde-hasta)123-131
Número de páginas9
PublicaciónUniversitas Scientiarum
Volumen19
N.º2
DOI
EstadoPublicada - 2014

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • General

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Cálculo de constantes ópticas de películas delgadas de Cu<sub>3</sub>BiS<sub>3</sub> a través del método de Wolfe'. En conjunto forman una huella única.

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